* 400nm ~ 800nm Wavelength 사용* ± 75° Tilt를 사용하여 정확한 Rth 측정과 Panel에 대한 광 특성을 측정* XY mapping을 사용하여 Sample의 uniformity를 측정* Sample의 R0, Rth, Orientation, B angle 측정* 다층의 편광필름을 분리하지 않고 각 layer별로 특성을 측정 할 수 있음자세한 내용은 첨부파일을 확인해 주세요