상세설명
제품개요
: ATE 특징을 포함 하면서도 Cost effective 한 Universal Memory DC & Function Tester로써, Package와 Module 모두에 적용 가능하며 Flexible한 Slot 확장을 통해서 동시 테스트 Para 증가가 용이하다.
제품특징
:
| - Target Device | Nand/Nor Flash, DRAM, Sram MCP |
|---|---|
| - Frequency | 125MHz |
| - Parallel Test | Unlimited Parallel |
