상세설명
● 시험개요
- 단일 PMIC Chip Quality Test
- 다양한 성능의 계측기를 이용한 칩 성능 시험
- Open/Short/Leakage Test
- LabVIEW를 이용한 Trim Test
- 임시 Mother Board 제작
● 기능 및 주요사양
1. SMU Specifications
-최대 전압 범위: -100..+100 V
2. DMM Specifications
-해상도 디지트: 7 ½디지트
-최대 전압 범위: -1000..1000 V
3. Matrix Specifications
-구성: 8x64
-스캔 속도 2000 초당 사이클
-최소 전압 범위 민감도: 10 nV
-최대 전류 범위: -3..3 A
-최소 전류 범위 민감도: 1 pA
-속도: 스위치 유형: 매트릭스
-매트릭스/멀티플렉서 모드: 1개의 와이어
-p 릴레이 유형: 리드 (Reed)
-샘플 속도: 1.8 MS/s
-대역폭: 300 kHz
-해상도: 26 비트
-아날로그 입력 채널: 1
4. Low Speed Digitizer Specifications
-아날로그 입력: 4 DI · 10 MS/s/ch · 12 비트
-해상도: 18 비트
-쿼드런트: 4
-아날로그 출력: 2 · 4 MS/s · 12 비트
-디지털 I/O: 8 DIO · 10 MHz
-카운터/타이머: 2 · 24 비트 · 20 MHz
-측정 타입: 디지털, 주파수, 구적 엔코터, 전압
● 응용분야
