상세설명
인쇄회로기판의 동박층을 절연하는 유전체 소재를 연결하기 위한 미세 Via Hole의 가공 상태 전반적인 검사를 위한 설비입니다.
층간 연결을 위한 도금 진행 이전 가공된 Via Hole의 상태를 명확히 확인하여
홀없음(Missing), 오버가공(Over Shot), 홀 편심(Shift)등의 다양한 불량 유형을 검출하는 설비입니다.
인쇄회로기판의 동박층을 절연하는 유전체 소재를 연결하기 위한 미세 Via Hole의 가공 상태 전반적인 검사를 위한 설비입니다.
층간 연결을 위한 도금 진행 이전 가공된 Via Hole의 상태를 명확히 확인하여
홀없음(Missing), 오버가공(Over Shot), 홀 편심(Shift)등의 다양한 불량 유형을 검출하는 설비입니다.